Vennligst angi hva slags kunde du er:
Meny
Søk
Handlekurv
0 kr
23 30 21 00
Forstørr bilde
Hitachi Hightech X-MET8000 Optimum håndholdt XRF analysator
Hitachi Hightech X-MET8000 Optimum håndholdt XRF analysator
Hitachi Hightech X-MET8000 Optimum håndholdt XRF analysator
Hitachi Hightech X-MET8000 Optimum håndholdt XRF analysator
Hitachi Hightech X-MET8000 Optimum håndholdt XRF analysator
Hitachi Hightech X-MET8000 Optimum håndholdt XRF analysator
Hitachi Hightech X-MET8000 Optimum håndholdt XRF analysator
Hitachi Hightech X-MET8000 Optimum håndholdt XRF analysator
Hitachi Hightech X-MET8000 Optimum håndholdt XRF analysator
Hitachi Hightech X-MET8000 Optimum håndholdt XRF analysator
Hitachi Hightech X-MET8000 Optimum håndholdt XRF analysator
Hitachi Hightech X-MET8000 Optimum håndholdt XRF analysator

Hitachi Hightech X-MET8000 Optimum håndholdt XRF analysator

Artikkelnr:
HITACHI X-MET8000 Optimum
Kapsling:
IP54
Lagerstatus:
Utsolgt

X-MET8000 Optimum er en håndholdt XRF-analysator som kan benyttes til ikke-destruktiv kvantifisering av grunnstoffer i faste materialer, og vil i løpet av sekunder gi deg svar på hvilken legering du står ovenfor. Instrumentet er enkelt i bruk, gir raskt svar, er portabelt og krever liten eller ingen forberedelse av prøvematerialet. Instrumentet benytter Oxford Instruments sin høyoppløselige SSD (Silicon Drift) detektor med økt område, og gjenkjenner opptil 35 elementer (avhengig av kalibrering) i området fra Mg til U. Et intuitivt brukergrensesnitt kombinert med en stor og lettlest skjerm gjør instrumentet rask og enkelt i bruk. X-MET8000 har inntil 12 timers driftstid på fulladet batteri. Stort internminne muliggjør omfattende rapportering av måleresultater. Instrumentet kan kommunisere med PC og andre enheter via Blåtann og WiFi, og kan bestilles med digitalt kamera som tilleggsfunksjon, noe som forenkler plassering av prøver og utvider dokumentasjonsmuligheter. Et stort utvalg av tilbehør tilpasset forskjellige applikasjoner er tilgjengelig. Måledata hentes ut via USB-tilkobling, Blåtann eller WiFi.

Instrumentet kan benyttes til følgende applikasjoner:

- Positiv materialidentifikasjon

- Kontroll av gjennomstrømningsbasert korrosjon

- Måling av overflatebehandlingstykkelse

- Identifikasjon av edelmetaller

- Detektering av tungmetaller i felt (jordsmonn etc.)

- Blyinnhold i lodding

- Giftige kjemikalier i behandlet treverk og konsumentprodukter (plastprodukter etc.)

- Sortering av metaller i gjennvinningsprosesser og hos skraphandlere

- Gruvedrift og mineralutvinning

X-MET 8000 leveres komplett i robust transportkoffert med 2 sett oppladbare Li-Ion batteri, batterilader, USB-kabel, USB minnepinne, bærestropp, brukerveiledning, hurtigmanual, programvare og SS316 materialprøve.

Røntegnfluorescens-spektrometri (XRF) er en metode som er mye brukt innen elementale– og kjemiske analyser, spesielt i undersøkelser av metaller, glass, keramikk og byggematerialer, og for forskning innen geokjemi, rettsmedisin og arkeologi.

XRF kan benyttes til å bestemme innhold av både hovedelementer (> ca. 0,5 %) og sporelementer (< ca. 0,5 %). Prinsippet for målemetoden er at røntgenstråling av høy energi sendes inn på en prøve. Dette fører til at grunnstoffene sender ut fluorescensstråling, som er karakteristisk for hvert enkelt element. Gitte bølgelengder vil derfor være karakteristiske for gitte elementer. De aktuelle bølgelengdene separeres ut ved vinkelavhengig refleksjon via en passende krystall, før påfølgende registrering med detektor.

XRF er best egnet for elementer med atomnummer > 9. Deteksjonsegenskapene varierer en del fra element til element, men er stor sett på ppm-nivå. Metoden er et godt alternativ til stasjonert analyseutstyr som for eksempel en spektrograf.

Produkter

Service
Enebakkveien 150 - 0680 Oslo
TLF: 23 30 21 00 

Personvernerklæring

Kontakt   
Enebakkveien 150 - 0680 Oslo
E-post: salg@instrumentcompaniet.no

Informasjonskapsler/cookies