Meny
Søk
Handlekurv
0,00 kr
23 30 21 00
Produktbilde
Forstørr bilde

Oxford Instruments X-MET8000 Expert håndholdt XRF analysator

Artikkelnr:
OI-X-MET8000-E
Detektor:
SSD
Røntgenrør:
50 kV Rh (maks 200µA)
Målepunkt (spot size):
10.7 x 9.4 mm2
Analyseområde:
Mg til U (opptil 35 elementer avh. av kalibrering)
Internminne:
16Gb / 100.000 måleverdier
Tilkobling:
USB, Blåtann, WiFi
Batteridrift:
Oppladbare batterier, 10-12 timers drift
Vekt:
1,8 kg
Kapsling:
IP54
Lagerstatus:

X-MET8000 Expert er Oxford Instruments mest avanserte håndholdte XRF-instrument for ikke-destruktiv kvantifisering av grunnstoffer i faste materialer, og vil i løpet av sekunder gi deg svar på hvilken legering du står ovenfor. Instrumentet er enkelt i bruk, gir raskt svar, er portabelt og krever liten eller ingen forberedelse av prøvematerialet. Instrumentet benytter Oxford Instruments sin høyoppløselige SSD (Silicon Drift) detektor med økt område, og gjenkjenner opptil 35 elementer (avhengig av kalibrering) i området fra Mg til U. Et intuitivt brukergrensesnitt kombinert med en stor og lettlest skjerm gjør instrumentet rask og enkelt i bruk. X-MET8000 Expert har inntil 12 timers driftstid på fulladet batteri. Stort internminne muliggjør omfattende rapportering av måleresultater. Instrumentet kan kommunisere med PC og andre enheter via Blåtann og WiFi, og har integrert digitalt kamera, noe som forenkler plassering av prøver og utvider dokumentasjonsmuligheter. Et stort utvalg av tilbehør tilpasset forskjellige applikasjoner er tilgjengelig. Måledata hentes ut via USB-tilkobling, Blåtann eller WiFi.

Instrumentet kan benyttes til følgende applikasjoner:

- Positiv materialidentifikasjon

- Kontroll av gjennomstrømningsbasert korrosjon

- Måling av overflatebehandlingstykkelse

- Identifikasjon av edelmetaller

- Detektering av tungmetaller i felt (jordsmonn etc.)

- Blyinnhold i lodding

- Giftige kjemikalier i behandlet treverk og konsumentprodukter (plastprodukter etc.)

- Sortering av metaller i gjennvinningsprosesser og hos skraphandlere

- Gruvedrift og mineralutvinning

X-MET8000 Expert leveres komplett i robust transportkoffert med 2 sett oppladbare Li-Ion batteri, batterilader, USB-kabel, USB minnepinne, bærestropp, brukerveiledning, hurtigmanual, programvare og SS316 materialprøve.

Røntegnfluorescens-spektrometri (XRF) er en metode som er mye brukt innen elementale– og kjemiske analyser, spesielt i undersøkelser av metaller, glass, keramikk og byggematerialer, og for forskning innen geokjemi, rettsmedisin og arkeologi.

XRF kan benyttes til å bestemme innhold av både hovedelementer (> ca. 0,5 %) og sporelementer (< ca. 0,5 %). Prinsippet for målemetoden er at røntgenstråling av høy energi sendes inn på en prøve. Dette fører til at grunnstoffene sender ut fluorescensstråling, som er karakteristisk for hvert enkelt element. Gitte bølgelengder vil derfor være karakteristiske for gitte elementer. De aktuelle bølgelengdene separeres ut ved vinkelavhengig refleksjon via en passende krystall, før påfølgende registrering med detektor.

XRF er best egnet for elementer med atomnummer > 9. Deteksjonsegenskapene varierer en del fra element til element, men er stor sett på ppm-nivå. Metoden er et godt alternativ til stasjonert analyseutstyr som for eksempel en spektrograf.

Produkter

Vis priser inkl mva